技术参数
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机身型号
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轴数
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工作范围
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单点精度
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空间精度
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EYES扫描精度
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WIDE扫描精度
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OPEN扫描精度
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720\620\620P
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7\6\6
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2.0m
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22\18\16 μm
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32\26\22 μm
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38 μm
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42 μm
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47 μm
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725\625\625P
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7\6\6
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2.5m
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27\23\20 μm
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38\34\30 μm
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44 μm
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48 μm
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53 μm
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730\A630
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7\6
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3.0m
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42\30 μm
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51\43 μm
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57 μm
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61 μm
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66 μm
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735\A635
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7\6
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3.5m
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54\39 μm
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62\56 μm
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68 μm
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72 μm
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77 μm
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740\A640
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7\6
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4.0m
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69\54 μm
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74\67 μm
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80 μm
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84 μm
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89 μm
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745\A645
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7\6
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4.5m
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78\72 μm
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89\82 μm
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95 μm
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99 μm
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104 μm
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测头参数
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EYES测头
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WIDE测头
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OPEN测头
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最高采样频率
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300Hz,60万点/秒
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300Hz,60万点/秒
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200Hz,20万点/秒
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精度2σ
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9μm
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15μm
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20μm
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最大扫描线宽
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100mm
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200mm
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100mm
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测头重量
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<400 g
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<400 g
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<400 g
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激光类型
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蓝色激光
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蓝色激光
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蓝色激光
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采样分辨率
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25μm
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50μm
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50μm
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扫描最小距离
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90mm
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85mm
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85mm
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景深
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80mm
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110mm
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110mm
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LED指示
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有
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有
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无
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温度补偿
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有
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有
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无
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测头快速转换
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有
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有
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有
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扫描和接触一体
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有
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有
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无
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特点
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高精度
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高效率
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高性价比
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说明：（1）以上数据测试依据：ASME B89.4.22标准中所述的测试方法的一部分；（2）工作环境：温度10-45℃，湿度0-95%（无凝结），电压：100-250VAC\50-60Hz；（3）上述数据可能因技术升级而更改，请与SGKS实验室联系了解最新数据。
应用说明
SGKS实验室凭借数十年的行业经验和对非传统测量技术的理解，致力于为客户提供领先的测量技术服务和创新解决方案。PSA（即PLOCK+Skyline+Ace）测量系统融合了SGKS实验室PLOCK专利技术、科瑞朗S\A\Z测头系统和ACE测量机，具备先进的蓝色激光三维扫描和接触测量能力，并自带AQC自动材质适应，可直接完成高亮或深黑材质的三维激光扫描，系统的超大尺寸三维测量模块，可低成本完成数十米甚至百米、误差不超过0.2mm的三维扫描和测量，尤其适合航空航天、国防军工、海洋装备和造船、智能制造自动化生产线、汽车整车、机车、工程机械等涉及的规划、检测、安装、调试等任务，以及民用机械制造业的品质保证和逆向工程、动植物三维形态研究等领域。
200591300