服务简述
MEMS是目前在快速发展的微型器件,已经获得广泛应用。其内部有多层芯片/板片结构,无损的透射三维扫描检测有效地解决了失效分析难题
不破坏外部封装的前提下,获得内部结构的三维形貌和缺陷,包括金线的焊接缺陷、梳齿结构的制造缺陷等
服务亮点
不破坏外部封装的前提下,获得内部结构的三维形貌和缺陷。
MEMS是目前在快速发展的微型器件,已经获得广泛应用。其内部有多层芯片/板片结构,无损的透射三维扫描检测有效地解决了失效分析难题
不破坏外部封装的前提下,获得内部结构的三维形貌和缺陷,包括金线的焊接缺陷、梳齿结构的制造缺陷等
不破坏外部封装的前提下,获得内部结构的三维形貌和缺陷。